XU-100是一款高性价比型X射线镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，全新下照式设计、性价比高、适用性强，轻松快速解决各种平面件、异形件及电镀液的检测，且能自动判定测试结果。

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统

2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm

3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上        Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）

4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：锂Li（3）-      铀 U（92），涂镀层最低检出限：0.005μm

6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

7）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度10%

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。

检测各种金属镀层，检出限可达0.005um，最近测距光斑扩散度10%以内，凹槽深度测量范围可达0-30mm是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。

检测各种金属镀层，检出限可达0.005um，最近测距光斑扩散度10%以内，凹槽深度测量范围可达0-30mm是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。

检测各种金属镀层，检出限可达0.005um，最近测距光斑扩散度10%以内，凹槽深度测量范围可达0-30mm是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型