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XD-1000是一款高性价比上照式X射线镀层测厚仪/膜厚分析仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。
XU-100是一款高性价比型X射线镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，全新下照式设计、性价比高、适用性强，轻松快速解决各种平面件、异形件及电镀液的检测，且能自动判定测试结果。
XAD-200是一款全元素上照式全自动X荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现三维坐标编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪(Elite Fischer、oxford ( CMI)等)，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾护航。
